時(shí)代超聲波探傷儀TIME1130的詳細(xì)資料：

時(shí)代超聲波探傷儀TIME1130

時(shí)代超聲波探傷儀TIME1130的產(chǎn)品概述：

，是更新?lián)Q代產(chǎn)品，能夠快速、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位及對(duì)缺陷的定量和定性，廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、軍工 、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。

相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：

本儀器涉及到的超聲波探傷國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有：

·GB/T 12604.1-2005 無損檢測(cè) 術(shù)語 超聲檢測(cè)；

·JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件；

·JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程；

·GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)；

·JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第3部分：超聲檢測(cè)；

·JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法，代替JG/T 3034-1996；

·SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無損檢測(cè)，代替SY/T 0443-1998，SY/T 0444-1998，SY/T 4056-1993，SY/T 4065-1993。

的產(chǎn)品特點(diǎn)：

·開發(fā)的、采用國(guó)內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù)，內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波脈沖發(fā)生器"，實(shí)現(xiàn)與探頭的*匹配，對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有的穿透力和信噪比；而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。

·*的電路設(shè)計(jì)，采用12bits 80MHz采樣片，配合5.7"TFT （640x480）高分辨率彩色液晶顯示屏，確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析，對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng)，回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證，對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。

·支持動(dòng)態(tài)錄像功能，可記錄4個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件，每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形。可外接U盤存貯到4個(gè)文件，每個(gè)文件半個(gè)小時(shí)，通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作，大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)。

·支持灰度B掃功能，可顯示截面灰度B掃描，一個(gè)屏幕顯示豐富信息量，可用于簡(jiǎn)單TOFD應(yīng)用。

·豐富的波形凍結(jié)功能，波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能，還具有定時(shí)釋放能力，大大方便用戶操作。

·機(jī)器嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求。

·內(nèi)置國(guó)內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn)，可直接通過選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置DAC曲線的三線偏移量，內(nèi)帶“美國(guó)鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1"評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測(cè)更加得心應(yīng)手，方便現(xiàn)場(chǎng)使用。

的探傷功能：

·波峰記憶：實(shí)時(shí)檢索缺陷zui高波，標(biāo)定缺陷zui大值。

·實(shí)用AVG：實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值（X>3N，N為近場(chǎng)距離）。

·動(dòng)態(tài)記錄：檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形，存儲(chǔ)、回放。

·缺陷定位：實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S。

·缺陷定量：實(shí)顯SL定量值（DAC曲線實(shí)時(shí)定量）。

·缺陷定性：通過包絡(luò)波形，人工經(jīng)驗(yàn)判斷。

·曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算。

·灰度B掃描：實(shí)時(shí)掃查，描述缺陷橫切面。

的技術(shù)參數(shù)：

·測(cè)量單位：mm、inch、ms。

·掃描范圍：零界面入射～10000mm。

·聲速調(diào)節(jié)：600～16000m/s。

·探頭延遲：-1.000～750.000μs。

·顯示延遲：-20～3400μs。

·工作方式：?jiǎn)翁筋^、雙探頭、透射。

·波形顯示方式：A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示。

的脈沖發(fā)生器：

·脈沖形式：模擬方波。

·發(fā)射電源：100～400V，10V步距可調(diào)。

·發(fā)射脈寬：75、100～500ns，50ns步距可調(diào)。

·探頭阻尼：50、100、200、500Ω。

·發(fā)射重復(fù)頻率：10～1000Hz。

的接收器：

·增益：0～110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0dB可調(diào)。

·總帶寬：0.5～20MHz。

·檢波方式：正半波、負(fù)半波、全波、射頻。

·垂直線性誤差：±2%。

·放大器精度：±1dB。

·抑制：屏高的0～80%。

·采樣速率：?jiǎn)纹?0 12bit MHz s。

·發(fā)射串?dāng)_抑制：≥80dB。

·動(dòng)態(tài)范圍：≥40dB。

·瞬時(shí)分辨力：≥32dB。

·水平線性誤差：≤0.1%。

·靈敏度余量：≥62dB。

的測(cè)量：

·測(cè)量閘門：2個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門。

·檢測(cè)方式：邊沿、峰值。

·閘門測(cè)量：回波的幅值、聲程、深度、投影等。

·凍結(jié)方式有：全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式。

·AVG當(dāng)量計(jì)算：根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量評(píng)估。

·DAC缺陷定量：根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估。

·閘門：邏輯關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警。

·閘門報(bào)警：關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存。

·報(bào)警：蜂鳴關(guān)、開。

的數(shù)據(jù)管理，通信及打?。?/strong>

·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄，1000幅波形圖（包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形），4x2000幀的動(dòng)態(tài)波形。

·數(shù)據(jù)管理：實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作，上述均可存儲(chǔ)到本地或U盤。

·通信：通過USB接口與PC機(jī)通信。

·輸出接口：USB OTG接口，USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口，USB2.0 Host 接U盤。

其它：

·產(chǎn)品重量：約1.6kg。

·產(chǎn)品外型尺寸：300*180*58mm（不帶遮光罩）。

·工作溫度：-10～50℃。

·存儲(chǔ)溫度：-20～60℃。

·語言：英語、中文。

·探頭連接：LEMO 或BNC。

·電池容量：聚合物電池2×3.7V 5000mAh。

·電池工作時(shí)間：不低于8h。

·充電時(shí)間：不超過8h。

·電源適配器輸入：100-240～50/60Hz。

·輸出：9V DC/3 A～4A。

**以上參數(shù)僅供參考，實(shí)際以出廠說明書為準(zhǔn)！